MAG-TD200

W polach przemiennych badania mogą być prowadzone w aparatach probierczych w postaci ramy Epsteina, Single Sheet Testera, jarzma dla próbki o wymiarach (280x30) mm i (100x100) mm jak również na próbkach toroidalnych. Możliwe są również inne układy probiercze zgodne z wolą zamawiającego. W przypadku wyposażenia wyżej wymienionych aparatów probierczych w odpowiednie czujniki system pomiarowy pozwala wyznaczyć właściwości magnetyczne badanych materiałów w oparciu o pośredni lub bezpośredni pomiar natężenia pola magnetycznego. Ponadto pozwala on również na pomiar właściwości ferromagnetyków w polach przemiennych, przy jednoczesnym pomiarze natężenia pola magnetycznego metodą bezpośrednią i pośrednią.

Jarzmo do pomiarów w polach rotacyjnych
W polach wirujących pomiar natężenia pola magnetycznego realizowany jest metodą bezpośrednią za pomocą takich czujników jak: cewka płaska, cewka Rogowskiego i czujnik hallotronowy. Jeśli jarzmo obwodu magnesującego i próbka stanowią obwód zamknięty to system pozwala wyznaczyć właściwości magnetyczne badanych materiałów w oparciu o pośredni lub bezpośredni pomiar natężenia pola magnetycznego, jak również w oparciu o pośredni i bezpośredni pomiar natężenia pola magnetycznego jednocześnie. Próbka magnesowana jest przez odpowiednio zorganizowane jarzma w kształcie litery U, wyposażone w regulator permeancji obu torów magnesujących. Układ magnesujący może być wykonany na szereg rożnych sposobów w zależności od życzeń zamawiającego.

Względna przenikalność amplitudowa w polach rotacyjnych Hodograf Hx=f(Hy) Rodzina pętli histerezy w polach rotacyjnych Przebiegi elektryczne w polach rotacyjnych Analiza Fouriera Krzywa pierwotnego magnesowania w jednym torze w polach rotacyjnych z pomiarem temperatury próbki

System MAG-TD200 umożliwia pomiar oraz wyznaczenie:

»   szczytowej wartości natężenia pola magnetycznego H_m [A/m]

»   skutecznej wartości natężenia pola magnetycznego H_eff [A/m]

»   wartości koercji H_c [A/m]

»   szczytowej wartości indukcji B_m [T]

»   szczytowej wartości magnetyzacji J_m [T]

»   skutecznej wartości indukcji B_eff [T]

»   skutecznej wartości magnetyzacji J_eff [T]

»   wartości remanencji J_r [T] (B_r [T])

»   stratności czynnej P_s [W/kg]

»   stratności pozornej S_s [VA/kg]

»   rozdziału strat na straty histerezowe i wiroprądowe P_h, P_w [W/kg]

»   względnej przenikalności amplitudowej µA

»   względnej przenikalności początkowej µA_pocz dla:

H_m = 0.4 A/m; f = 50 Hz

H_m = 1.6 A/m; f = 50 Hz

»   względnej przenikalności różniczkowej µr

»   pętli histerezy dla żądanych wartości indukcji i natężenia pola magnetycznego

»   zbioru pętel histerez dla różnych wartości indukcji i natężenia pola magnetycznego z pełnym opisem parametrów dla każdego punktu pomiarowego

»   anizotropii magnetyzacji (indukcji) J [T] (B [T])

»   anizotropii stratności A [%]

»   stratności próbki mieszanej P_s [W/kg]

»   magnesowalności próbki mieszanej J_m [T]

»   przebiegów czasowych magnetyzacji i natężenia pola magnetycznego z pełnym opisem ich parametrów dla każdego punktu pomiarowego

»   przebiegów czasowych napięcia pomiarowego obiektu i prądu magnesującego obiekt z pełnym opisem ich parametrów dla każdego punktu pomiarowego

»   rozkładu w szereg Fouriera z pełnym opisem i grafiką w postaci wykresu prążkowego dla każdego punktu pomiarowego przebiegu natężenia pola magnetycznego, magnetyzacji, stratności czynnej, stratności biernej i stratności pozornej z określeniem stratności deformacji

»   współczynnika szczytu natężenia pola magnetycznego k_s

»   współczynnika kształtu natężenia pola magnetycznego k_k

»   masy próbki w trybie automatycznym

»   końcowego zestawienia wyników pomiarów

W polach wirujących wszystkie powyższe parametry wyznaczane są dla obu kierunków magnesowania jednocześnie.

Ponadto system MAG-TD200 pozwala wyznaczyć:

»   stratność rotacyjną P_r [W/kg]

»   kąt pomiędzy wektorem H i B [°]

»   pętle histerezy dla żądanej wartości magnetyzacji

J_x = f(H_x)

J_y = f(H_y)

J_y = f(J_x)

H_y = f(H_x)

J_y = f(J_x) i H_y = f(H_x) jednocześnie z pełnym opisem parametrów.

System posiada bardzo dużą możliwość prezentacji graficznej wyników pomiarów. Każda z wyżej wymienionych wielkości magnetycznych może być zarówno wartością jak i argumentem kreślonej charakterystyki. Wszystkie uzyskane wyniki są przedstawiane w postaci tabelarycznej i graficznej na ekranie monitora i mogą być eksponowane za pomocą drukarki wraz z pełnym opisem parametrów badanego obiektu. System zapewnia również możliwość eksportu wszystkich wyników pomiarów wraz z przebiegami czasowymi wielkości elektrycznych i magnetycznych. Jest to bardzo istotna zaleta systemu pomiarowego, gdyż dostęp do wszystkich przebiegów czasowych daje pełną swobodę w zakresie analizy i prezentacji graficznej wyników zgodnej z wolą operatora.
Wszystkie wyżej wymienione wielkości mogą być mierzone w zakresie:

dla pól przemiennych:

»   częstotliwości

z rozdzielczością f = 0.01 Hz
(1÷2 000Hz)

z dokładnością nastawy
<= 0.1 %

»   natężenia pola magnetycznego (dla aparatu Epsteina 25cm 50/60 Hz)

z dokładnością nastawy <= 0.3 %
(0.1÷15 000A/m)

»   magnetyzacji

z minimalnym krokiem J = 0.05 T
(0.005÷2.5T)

z dokładnością nastawy
<= 0.1 %

dla pól wirujących, przy dowolnej eliptyczności pola magnesującego:

»   częstotliwości

z rozdzielczością f = 0.01 Hz
(5÷800Hz)

z dokładnością nastawy
<= 0.1 %

»   magnetyzacji w zależności od badanego materiału

z krokiem J = 0.05 T
(0.005÷1.6T)

z dokładnością nastawy
<= 0.3 %

»   natężenia pola magnetycznego w zależności od badanego materiału oraz szczeliny powietrznej na styku jarzmo-próbka

Ponadto system MAG-TD200 wyposażony jest w zewnętrzne wzmacniacze instrumentalne sygnałów proporcjonalnych do indukcji i natężenia pola magnetycznego w obu torach pomiarowych. Możliwe nastawy wzmocnień w dwóch kanałach B i H wynoszą 1, 10, 100, 200, 500 i 1000. Mogą one również przyjmować dowolne wartości, według potrzeb Zamawiającego.

Pomiary mogą być realizowane w całym, bądź ściśle ograniczonym zakresie pomiarowym, z żądana wartością zmiany magnetyzacji (indukcji) lub natężenia pola magnetycznego. Mogą być również wykonywane dla określonych wartości magnetyzacji (indukcji) lub natężenia pola magnetycznego. Zmienną niezależną w systemie może być w każdym przypadku natężenie pola magnetycznego lub polaryzacja (indukcja) dla pól przemiennych. Dla pól rotacyjnych zmienną niezależną jest indukcja. System umożliwia rozmagnesowanie badanej próbki, które może być uwzględniane lub pomijane w procedurze pomiarowej. Wartość natężenia pola rozmagnesowującego, czas trwania rozmagnesowania oraz czas odstawienia próbki zadawane są przez operatora.

Cały proces pomiarowy wraz z procedurą kalibracji torów pomiarowych jest w pełni zautomatyzowany. Pomiary wykonywane są z zachowaniem sinusoidalnego przebiegu pochodnej indukcji magnetycznej. Dopuszczalna odchyłka współczynnika kształtu pochodnej indukcji od sinusoidy dla pól przemiennych nie przekracza 0.1%, a dla pól rotacyjnych nie przekracza 0.5%. Pomiary wykonywane w obszarze znormalizowanym spełniają wymagania norm IEC i EN.

Ponadto system umożliwia prowadzenie badań dla zadanych przez użytkownika wartości tolerancji:

Nastawy wartości wielkości mierzonej,
Współczynnika kształtu.

Możliwe jest również zadanie wartości granicznej prądu magnesującego.

DANE TECHNICZNE

MAG-TD200 w wersji PDF
180 kB

23-01-2009

MAG-TD200 w wersji DOC
1,14 MB

23-01-2009

Wersja demonstracyjna programu MAG-TD200 (.exe)
6.68 MB

12-03-2006

Wersja demonstracyjna programu MAG-TD200 (.zip)
6.14 MB

12-03-2006

Do góry