TMAG-RJJ-3.1

Komputerowy system pomiarowy TMAG-RJJ-3.1 przeznaczony jest do testowania i badania dynamicznych właściwości magnetycznych materiałów magnetycznie miękkich na pojedynczych paskach blachy elektrotechnicznej o strukturze krystalicznej jak i bezpostaciowej.

Badania właściwości materiału ferromagnetycznego realizowane są w specjalnie do tego celu wykonanych magnetowodach dla próbek o różnych wymiarach geometrycznych, w zakresie częstotliwości od 10 do 4000 Hz.

System pomiarowy TMAG-RJJ-3.1 pozwala na wykonanie badań właściwości wspomnianych materiałów w innych obwodach probierczych takich jak: próbka toroidalna, rama Epsteina znormalizowana jak i nieznormalizowana, próbka otwarta w zakresie indukcji zależnym od rodzaju materiału i parametrów magnetowodu. Prezentowany system zapewnia duże możliwości techniczne jak i opcjonalne w zakresie realizacji pomiaru obiektów ferromagnetycznych.

Duże możliwości pomiarowe systemu TMAG-RJJ-3.1 oraz dokładność pomiaru, zapewniają wykonanie pełnych badań, niezbędnych dla jednoznacznej oceny wpływu procesu technologicznego na właściwości magnetyczne materiału jak i dokonania oceny jakości blach elektrotechnicznych pod względem właściwości magnetycznych dla celów technologicznych jak i konstrukcyjnych. Jest on więc szczególnie cenny jako podstawowe wyposażenie laboratoriów firm zajmujących się technologią, produkcją jak i wykorzystaniem blach elektrotechnicznych.

System TMAG-RJJ-3.1 umożliwia pomiar oraz wyznaczenie:

»   szczytowej wartości natężenia pola magnetycznego H_m [A/m]

»   skutecznej wartości natężenia pola magnetycznego H_eff [A/m]

»   wartości koercji H_c [A/m]

»   szczytowej wartości indukcji (magnetyzacji J) B_m [T] (J_m [T])

»   skutecznej wartości indukcji (magnetyzacji J) B_eff [T] (J_eff [T])

»   wartości remanencji J_r [T] (B_r [T])

»   stratności czynnej P_s [W/kg]

»   stratności pozornej S_s [VA/kg]

»   rozdziału strat na straty:

histerezowe
P_h [W/kg],

wiroprądowe
P_w [W/kg].

»   względnej przenikalności amplitudowej µA

»   względnej przenikalności różniczkowej µr

»   współczynnika kształtu natężenia pola magnetycznego k_k

»   współczynnika szczytu natężenia pola magnetycznego k_s

»   pętli histerezy dla żądanych wartości indukcji

»   pętli histerezy dla żądanych wartości natężenia pola magnetycznego

»   zbioru pętel histerez dla różnych wartości indukcji magnetycznej z pełnym opisem parametrów dla każdego punktu pomiarowego

»   zbioru pętel histerez dla różnych wartości natężenia pola magnetycznego z pełnym opisem parametrów dla każdego punktu pomiarowego

»   anizotropii indukcji B [T]

»   anizotropii stratności A [%]

»   stratności próbki mieszanej P_s [W/kg]

»   magnesowalności próbki mieszanej J_m [T]

»   przebiegów czasowych magnetyzacji i natężenia pola magnetycznego z pełnym opisem ich parametrów dla każdego punktu pomiarowego

»   przebiegów czasowych napięcia pomiarowego obiektu i prądu magnesującego obiekt z pełnym opisem ich parametrów dla każdego punktu pomiarowego

»   rozkładu w szereg Fouriera z pełnym opisem i grafiką w postaci wykresu prążkowego dla każdego punktu pomiarowego przebiegu natężenia pola magnetycznego, magnetyzacji, stratności czynnej, stratności biernej i stratności pozornej z określeniem stratności deformacji

»   masy próbki w trybie automatycznym

»   końcowego zestawienia wyników pomiarów

Wszystkie wyżej wymienione wielkości mogą być mierzone w funkcji natężenia pola magnetycznego lub indukcji w zakresie:

»	częstotliwości
	z rozdzielczością f = 0.01 Hz	(10÷4 000Hz)
	z dokładnością nastawy	<= 0.1 %

»	natężenia pola magnetycznego (dla aparatu Epsteina 25cm 50/60 Hz)
	z dokładnością nastawy <= 0.3 %	(5÷12 000A/m)
»	magnetyzacji
	z minimalnym krokiem J = 0.01 T	(0.15÷2.0T)
	z dokładnością nastawy <= 0.1 %

Ponadto system umożliwia prowadzenie badań dla zadanych przez użytkownika wartości tolerancji:

Nastawy wartości wielkości mierzonej,
Współczynnika kształtu.

Możliwe jest również zadanie wartości granicznej prądu magnesującego.

Pomiary mogą być realizowane w całym bądź ściśle ograniczonym zakresie pomiarowym z żądaną wartością zmiany indukcji magnetycznej lub natężenia pola magnetycznego, jak również mogą być wykonywane tylko dla określonych wartości indukcji i natężenia pola magnetycznego. Pomiary wykonywane są z zachowaniem sinusoidalnego przebiegu pochodnej indukcji magnetycznej. Możliwe jest również wykonywanie pomiarów bez wymuszenia kształtowania przebiegu indukcji.

Rozmagnesowanie próbki może być uwzględniane lub pomijane w procedurze pomiarowej. Wartość natężenia pola rozmagnesowującego oraz czas trwania rozmagnesowania zadawane są przez obsługę. Cały proces pomiarowy wraz z procedurą kalibracji jest w pełni zautomatyzowany.

System TMAG-RJJ-3.1 zapewnia uzyskanie wyników pomiarów w postaci tabelarycznej i graficznej, które mogą być eksponowane za pomocą monitora, drukarki lub plotera. Wszystkie wyniki pomiarów są umieszczane na twardym dysku co zapewnia pełną ich archiwizację.

DANE TECHNICZNE
	TMAG-RJJ-3.1 w wersji PDF	-	-
	TMAG-RJJ-3.1 w wersji DOC	-	-

Do góry